儀器名稱(chēng)：原子力顯微鏡（AFM）

型號(hào)：MciroNano SPM

主要配置和功能：掃描隧道顯微鏡STM、原子力顯微鏡AFM（含接觸/輕敲/相位/振幅等模式）；納米定位功能（光學(xué)顯微系統(tǒng)+高精度電控樣品移動(dòng)平臺(tái)+ 50
微米大量程高精度掃描器）、環(huán)境檢測(cè)功能；掃描探針聲學(xué)成像功能SPAM。

應(yīng)用范圍：
材料表面微納結(jié)構(gòu)的表征和分析，顆粒大小和粒徑分布測(cè)量、金屬材料表面態(tài)密度分布表征、和材料內(nèi)部斷裂層的表征和分析等。